Участники мастер-класса познакомились с ограничениями оптической микроскопии и принципами работы АСМ, кантилевером и литографией;
увидели современные АСМ-изображения субнанометрового разрешения, на которых различимы отдельные молекулы и атомы.,

Благодаря наличию у школы АСМ, учащиеся смогли увидеть консоли с иглами, острие которых в тысячу раз тоньше волоса, и их точное позиционирование на поверхности образца.
Наибольший интерес вызвали показательные измерения образцов микроскопического размера в реальном времени и возможность прикоснуться к передовому прибору.

В заключительной части мастер-класса была проведена практическая работа по обработке полученных АСМ-изображений в виртуальной лаборатории библиотеки МЭШ, в рамках которой удалось с высокой степенью точности определить ширину дорожек на компакт-диске.
Мы рады, что проводимые школой мероприятия вызывают живой интерес, и приглашаем ребят на будущие мастер-классы!

Мероприятие проводилось сотрудниками школы и НИЯУ МИФИ в рамках реализации городских проектов профильного и предпрофессионального образования «Инженерный класс» и «Естественно-научная вертикаль».